所有機器・装置一覧

測定装置

3Dレーザー顕微鏡: オリンパス製
LEXT OLS5100
8N211室
小型混練機: Xplore製
MC15HT-GK
８N605室
高分解能走査型電子顕微鏡: 日立ハイテク製
S-4800
8S659室
イオンスパッター: 日立ハイテク製
E-1030
8S659室
走査プローブ顕微鏡: セイコーインスツルメンツ製
E-Sweep
8N211室
偏光顕微鏡: キーエンス製
VH-5500
8S659室
実体顕微鏡: 島津理化製
M10
8S659室
材料試験機: エーアンドディー製
Tensilon RTC-1325A（高温オーブン）
8S659室
試験片カッター: ダンベル製
SDL-100
8S659室
インプロセス計測用高輝度X線測定装置（WAXD/SAXS）: 【X線発生装置】
リガク製
MicroMAX007/HF
【CCD検出器】
浜松ホトニクス製
C4742-98 CCD
V7739 Image Intensifier
【半導体検出器】
PSI製
Pilatus 100K; 8S652室
表面X線回折装置: リガク製
Ultima III
機器分析センター1階X線室
示差走査型熱量計: パーキンエルマー製
Diamond DSC (IntraCooler II)
8S659室
示差走査型熱量計: パーキンエルマー製
Pyris 1 DSC (IntraCooler II / CryoFill)
8S659室
熱重量測定装置: リガク製
TG/DTA ThermoPlus TG8120
8S棟1階測定室
固体粘弾性測定装置: メトラートレド製
DMA/SDTA861
8S659室
溶融粘弾性測定装置: NETZSCH製
KINEXUS Lab+
8N605室
ガス透過率測定装置: ツクバリカセイキ製
K-315-N-01
イノベーションセンター101室
インピーダンス測定装置: アジレント製
E-1030
8S659室
接触角測定装置: 協和界面製
DropMaster100
8S659室
旋光度計: アタゴ製作所製
α-5000
8S659室
密度勾配管: 柴山科学製

8S659室
密度測定装置: Quantachome Instruments製
Ultra Pycnometer 1000
イノベーションセンター101室
ゲル濾過クロマトグラフィー: 日本ウォーターズ製
1515/2414
4号館5階